瑞茂光学（深圳）有限公司

　　【瑞茂光学】X-RAY芯片检测设备X-7100E高解析度X射线检测仪采用高解析度增强屏和密封微焦X射线管组合的结构，通过X射线非破坏性透视检查，实时观察到清晰的图片。另外，强大的软件测量功能使得检查效率大大提高。除此之外，通过安装CNC组件，可以使检测过程变得更轻松、快捷。全数码X射线检查机X-7100全系采用数字平板探测器及X射线集成数码影像截取技术.